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美国国家标准与技术研究院(NIST)发布《芯片研发标准化就绪水平研讨会总结报告》

来源: 部门:集成电路标准化研究所 发布时间:2026-04-03

  2026年3月11日,美国国家标准与技术研究院(NIST)发布《芯片研发标准化就绪水平研讨会总结报告》。报告指出,该研讨会汇聚了170余名半导体行业专家,探讨建立标准化就绪水平框架(Standardization Readiness Framework)和标准就绪水平等级量表(StRL)。会议基于技术、市场、社区三大维度,提出9级StRL量表(从预标准化研究到标准采纳),旨在为半导体行业提供评估标准成熟度的共同语言,加速私营部门主导的技术标准开发,支撑CHIPS for America计划目标实现。
  原文链接:https://doi.org/10.6028/NIST.CHIPS.1400-4